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半导体参数测试仪

简要描述:v配备集成电脑及显示屏一体机箱

基础信息

产品型号

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更新时间

2024-10-22

浏览次数

11
详细介绍

v 配备集成电脑及显示屏一体机箱,包含高精度电流测量模块、电容测量模块、超快脉冲模块,配合专用数据测量分析软件,无需外接其他仪表即可实现I-V曲线,I-t曲线,C-V曲线及C-f曲线的测量并能在屏幕实时显示测量结果

v 电流测量精度0.1 fA,最小可测量电流≤20 fA

v 电流测量量程0.1 A,输出功率≥2 W

v 电流测量精度10 fA时,电流表的最短采样时间间隔100 μs

v I-V特性测试及C-V特性测试切换时,无须更改电路

v 实现不同频率交流阻抗测量(C-VC-fC-t) 的测量,频率范围1 kHz-5 MHz,最小频率步进≤1 mHz

v 电容测量精度5 fF (1 MHz)≤10 fF5 MHz

v 电容测量范围5 fF-1 nF,电压0±25V,步进≤1 mV

v 具有脉冲输出及采集模块,脉冲输出电压峰值10 V

v 脉冲采样采样率200 MSa/s,最小采样时间5 ns

v 具有瞬态波形捕获模式

v 具有任意波形发生器,支持多电平脉冲波形,可编程分辨率10 ns


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